17301946517
產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > EMI測試附件 >
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
前置射頻放大器EM5020B配合EM5030近場探頭使用，主要對所要測試的微弱信號(hào)進(jìn)行放大， 頻率范圍9kHz-3GHz；EM5020A增益約為20dB，EM5020B增益約30dB,可以大大提高系統(tǒng)測試的靈敏度。標(biāo)配USB適配器和USB升壓電源轉(zhuǎn)接線，可以直接通過頻譜分析儀或者接收機(jī)自帶的USB接口供電，使用更加方便。配合EM5030近場探頭可以快速準(zhǔn)確地確定電磁干擾源頭，避免盲目更改EMI設(shè)計(jì)
前置射頻放大器EM5020A配合EM5030近場探頭使用，主要對所要測試的微弱信號(hào)進(jìn)行放大， 頻率范圍9kHz-3GHz；EM5020A增益約為20dB，EM5020B增益約30dB,可以大大提高系統(tǒng)測試的靈敏度。標(biāo)配USB適配器和USB升壓電源轉(zhuǎn)接線，可以直接通過頻譜分析儀或者接收機(jī)自帶的USB接口供電，使用更加方便。配合EM5030近場探頭可以快速準(zhǔn)確地確定電磁干擾源頭，避免盲目更改EMI設(shè)計(jì)
EM5070B耦合去耦網(wǎng)絡(luò)CDNE-M3用于EMI測試的產(chǎn)品，它能在射頻范圍內(nèi)為被測試設(shè)備端子和參考地之間提供穩(wěn)定的阻抗，同時(shí)將來自電網(wǎng)的無用信號(hào)與測量電路隔離開,僅將被測試設(shè)備的干擾電壓耦合到測量接收機(jī)的輸入端。 耦合和去耦裝置（即CDNE）可以用于電氣照明設(shè)備30MHz-300MHz輻射騷擾測量；根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)CISPR15/EN55015 ；具體測量方法參看上述標(biāo)準(zhǔn)。
耦合和去耦裝置CDN EM5070A是用于EMI測試的產(chǎn)品，它能在射頻范圍內(nèi)為被測試設(shè)備端子和參考地之間提供穩(wěn)定的阻抗，同時(shí)將來自電網(wǎng)的無用信號(hào)與測量電路隔離開,僅將被測試設(shè)備的干擾電壓耦合到測量接收機(jī)的輸入端。
射頻電流探頭EM5011是一款EMI/EMS兩用的射頻電流探頭。既可以直接作為射頻電流注入探頭（EMS應(yīng)用場合），也可以外接50歐貫通式負(fù)載，轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)的射頻干擾電流接收探頭（EMI應(yīng)用場合）。
掃碼加微信