一、材料表征技術(shù)和應(yīng)用

       為材料科學(xué)研究提供支持，優(yōu)化材料或設(shè)備時(shí)，一個(gè)重要環(huán)節(jié)就是測量介電特性。測量介電常數(shù)可以讓我們確定以下材料特性：

1、變化（因老化、溫度、濕度和壓力而引起）

2、特定電磁頻率下的透明度（例如，檢查汽車保險(xiǎn)杠在雷達(dá)頻率下的透明度）

3、與電路的兼容性（例如，確保 PCB 材料與射頻電路兼容）

4、一致性

       有兩種不同的儀器可以測量介電特性， 具體選擇視頻率范圍而定。

1、阻抗分析儀通常用于從毫赫茲到低兆赫茲的頻率范圍。這種低頻足以涵蓋許多應(yīng)用場景。

2、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 更適合從較高的兆赫茲到吉赫茲的頻率范圍內(nèi)使用的材料。對(duì)于太赫茲范圍內(nèi)的測量，可以結(jié)合使用 VNA 和上變頻器。

從毫赫茲到太赫茲的測試解決方案

       優(yōu)測科技在射頻技術(shù)方面積累了深厚的專業(yè)知識(shí)，為材料科學(xué)研究提供強(qiáng)力支持，同時(shí)研發(fā)各種阻抗測量和材料科學(xué)解決方案，大大完善了介電測量的產(chǎn)品組合。

二、阻抗分析儀 - 低頻測量

       電介質(zhì)具備極化性，在直流狀態(tài)下是一種電導(dǎo)率很低的電絕緣體。電介質(zhì)可以儲(chǔ)存低頻和中頻范圍內(nèi)的電荷。這種電容效應(yīng)使得電介質(zhì)可用于電荷的儲(chǔ)存和耗散。了解電容器或薄膜電介質(zhì)應(yīng)用中所用材料的介電常數(shù)非常重要，例如：

1、低損耗電氣元件

2、能量儲(chǔ)存設(shè)備，例如電容器

3、半導(dǎo)體設(shè)備中的高介電常數(shù)門和低介電常數(shù)門

4、壓電式和鐵電式傳感器和換能器

       為了充分了解材料物理特性以及優(yōu)化設(shè)備性能，需要開展電介質(zhì)的阻抗研究。

       阻抗分析儀非常適合低頻測量。MFIA 可以在 1 mHz 至 5 MHz 的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行測量，并計(jì)算阻抗參數(shù)，例如介電常數(shù)和損耗因數(shù)。

       使用阻抗分析儀進(jìn)行電介質(zhì)表征時(shí)，將特定幾何結(jié)構(gòu)的樣品與兩個(gè)電極相接觸。這一般需要使用平行平板夾具。對(duì)于這樣的幾何結(jié)構(gòu)，可以根據(jù)材料電容與空氣電容之比得出介電常數(shù)（相對(duì)介電常數(shù)）。

三、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) - 高頻表征

       高頻表征需要使用 VNA。具體的測量方法取決于所需的頻率范圍、測量速度和精度。有四種常用的測量方法：

1、透射/反射方法

2、自由空間方法

3、開口同軸探頭方法

4、諧振（腔）方法

       材料的物理和介電特性也很重要。比如說，材料是固態(tài)、液體還是粉末？材料的溫度高嗎？形狀特殊嗎？這些特性對(duì)選擇合適的表征方法有很大的影響。

       測量方法還會(huì)確定除了 VNA 之外需要的材料樣品夾具。

四、了解材料表征設(shè)備

       我們的阻抗分析儀和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀涵蓋材料科學(xué)研究所需的整個(gè)頻率范圍。

       查看我們的產(chǎn)品組合，尋找用于分析無源和有源器件的合適工具：

1、多功能、高性能的網(wǎng)絡(luò)分析儀，頻率高達(dá) 1.1 THz

2、標(biāo)準(zhǔn)多端口解決方案，可提供 48 個(gè)端口

3、阻抗分析儀，支持低頻和高阻抗范圍，超越傳統(tǒng)的阻抗分析儀

五、我們的材料表征儀器的優(yōu)勢

       優(yōu)測科技的材料表征解決方案提供非常寬的頻率范圍。我們與可靠的測試夾具供應(yīng)商合作，在我們的解決方案中加入他們的驅(qū)動(dòng)程序，讓我們的儀器即插即用。另有更多優(yōu)勢：

1、測量高效快速

2、配置和操作簡單

3、無縫集成到現(xiàn)有設(shè)置中

4、持續(xù)提供支持和技術(shù)資源